OLYMPUS/奥林巴斯 38DL PLUS超声测厚仪 38DLP-7906SM-U-MT-E-EN 7906SM-U-MT-E-EN 1台

·可与双晶和单晶探头兼容。
·宽泛的厚度测量范围：0.08毫米～635毫米，根据材料和所 选探头而定。
·使用双晶探头进行腐蚀测厚。
·THRU-COAT®（穿透涂层）和回波到回波测量功能，用于 测量表面带有漆层和涂层的材料。
·内部氧化层/沉积物软件选项。
·对于所有探头，标准分辨率为0.01毫米。
·使用频率范围为2.25 MHz～30 MHz的单晶探头时，高分 辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量。
·多层软件选项用于对多达4个不同层的厚度同时进行测量。
·高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高 衰减性的材料。
·厚度、声速和渡越时间测量。
·差分模式和缩减率模式。
·时基B扫描模式；每次扫查可获得10000个可复查读数。
·带有数字式过滤器的Olympus高动态增益技术。
·用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。
·设计符合EN15317标准。